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- 光譜儀,光度計(jì),光譜分析儀
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賽默飛/熱電電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-OES)-iCAP6000/7000系列故障及參考解決方案
賽默飛/熱電電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-OES)-iCAP6000/7000系列故障及參考解決方案
主要現(xiàn)象 |
可能原因 |
解決方案 |
點(diǎn)火困難 |
不滿足點(diǎn)火條件 |
檢查儀器內(nèi)鎖各指示燈是否有紅色 |
氣體純度不夠 |
氬氣純度>99.995% |
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點(diǎn)火頭位置偏移 |
調(diào)整點(diǎn)火頭位置 |
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點(diǎn)火后自動(dòng)熄火 |
進(jìn)樣系統(tǒng)漏氣 |
檢查各接頭是否漏氣 |
霧化室積液 |
**廢液管排液順暢 |
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內(nèi)鎖保護(hù)啟動(dòng) |
檢查儀器內(nèi)鎖各指示燈是否有紅色 |
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準(zhǔn)確性差 |
標(biāo)液失效 |
重新配制標(biāo)液并繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線 |
線性不好 |
重新建立標(biāo)準(zhǔn)曲線 |
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物理干擾、化學(xué)干擾 |
標(biāo)液與樣品基體匹配 |
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連續(xù)稀釋 |
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標(biāo)準(zhǔn)加入法 |
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內(nèi)標(biāo)法 |
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ICP-OES譜線干擾 |
換譜線 |
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譜圖處理(手動(dòng)調(diào)整背景等) |
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iEC校正 |
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**高 |
檢查**是否污染 |
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前處理 |
前處理需消解徹底、轉(zhuǎn)移完全,防止揮發(fā) |
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查詢文獻(xiàn),針對(duì)不同的樣品,用*適宜的酸 |
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酸濃度控制在1-3%,不要*過(guò)5% |
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樣品中顆粒物粒徑<10μm,否則需過(guò)濾 |
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穩(wěn)定性差 |
霧化氣流量不合適 |
設(shè)置合適的霧化器流量 |
霧化器堵塞 |
清潔霧化器,*好使用氣體反吹 |
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霧化室掛液 |
清洗霧化室 |
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矩管積鹽 |
清潔矩管 |
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不同時(shí)間,測(cè)定結(jié)果不同 |
不可沿用之前的標(biāo)曲,重新建立標(biāo)曲并測(cè)試 |
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進(jìn)樣管和蠕動(dòng)泵 |
檢查進(jìn)樣管是否漏夜 |
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檢查進(jìn)樣管是否老化失去彈性 |
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設(shè)置合適的泵夾壓力 |
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設(shè)置合適的沖洗時(shí)間(防止記憶效應(yīng)) |
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光路部分 |
實(shí)驗(yàn)前用氬氣對(duì)光路系統(tǒng)充分吹掃 |
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實(shí)驗(yàn)時(shí)儀器光路溫度續(xù)穩(wěn)定在38±0.1℃ |
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實(shí)驗(yàn)時(shí)應(yīng)**室內(nèi)溫度、濕度穩(wěn)定 |
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儀器點(diǎn)火后需穩(wěn)定15-30 min再行實(shí)驗(yàn) |
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光路校準(zhǔn)值X、Y偏差值不*過(guò)±3 |
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定期進(jìn)行矩管準(zhǔn)直 |
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必要時(shí)可使用單標(biāo)進(jìn)行自動(dòng)尋峰 |
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紫外見不到閃耀 |
外光路石英窗污染 |
清潔石英窗 |
外光路石英窗密封圈失效 |
更換密封圈 |
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常見測(cè)試問(wèn)題 |
低含量元素測(cè)不準(zhǔn)確 |
低于儀器檢出限,建議更低檢出限的儀器 |
鋼鐵基體中B測(cè)不好 |
B的靈敏線249.6和249.7nm受到Fe的干擾,鋼鐵中測(cè)B可以選擇182.6nm |
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含Cu時(shí),P測(cè)不好 |
P 177.4和213.6nm受到Cu的干擾,用178.2nm波長(zhǎng) |
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實(shí)際樣品結(jié)果偏高 |
避免前處理過(guò)程有污染 |
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進(jìn)樣系統(tǒng)腐蝕 |
樣品中含氫氟酸,或者酸度過(guò)高(應(yīng)<5%) |
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易揮發(fā)元素測(cè)不準(zhǔn) |
避免前處理過(guò)程揮發(fā)損失 |
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高鹽樣品堵塞霧化器 |
選用高鹽進(jìn)樣系統(tǒng) |
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有機(jī)樣品易熄火 |
選用有機(jī)進(jìn)樣系統(tǒng) |
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常見軟件報(bào)錯(cuò) |
F', //OVER_FAIL |
高限檢查失敗 |
F', //BELOW_FAIL |
低限檢查失敗 |
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W', //OVER_WARN |
高限檢查警告 |
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W', //BELOW_WARN |
低限檢查警告 |
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C', //OVERCAL_ERR |
濃度*過(guò)校準(zhǔn)曲線范圍 (*過(guò)曲線點(diǎn)) |
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c', //UNDERCAL_ERR |
濃度為負(fù)值 (低于**標(biāo)準(zhǔn)) |
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D', //PEAK_OFFCHIP |
分析峰偏離檢測(cè)器 (數(shù)據(jù)不能獲取) |
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^', //SATURATED |
分析峰飽和 (數(shù)據(jù)不能獲取) |
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P', //PLASMA_ERR |
炬管問(wèn)題或者其它等離子體條件出錯(cuò) |
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*', //GEN_ERR |
總體出錯(cuò) – 無(wú)數(shù)據(jù)獲取 |
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*', //READ_ERR |
不能讀取光譜子陣列圖 |
|
N', // |
曝光前未選擇分析譜線 |
——來(lái)源:賽默飛網(wǎng)站